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Gruppiert nach: Dokumententyp | Veröffentlichungsdatum
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Anzahl der Publikationen: 1

2022

Kappelhoff, Fynn; Rasche, Rasmus; Mukhopadhyay, Debdeep und Rührmair, Ulrich (2022): Strong PUF Security Metrics: Response Sensitivity to Small Challenge Perturbations. 23rd International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), Santa Clara, CA, USA, 06-07 April 2022. In: 2022 23rd International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), Piscataway, NJ, USA: IEEE. S. 1-10

Diese Liste wurde am Sat Nov 16 22:44:51 2024 CET erstellt.

Open Access LMU verwendet EPrints 3, das an der School of Electronics and Computer Science der Universität Southampton entwickelt wurde.
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