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Veröffentlichungsdatum
Springe zu: 2025
Anzahl der Publikationen: 1
2025
Kolpaczki, Patrick 
ORCID: https://orcid.org/0000-0002-7807-8460; Nielen, Tim ORCID: https://orcid.org/0009-0007-6941-8383 und Hüllermeier, Eyke ORCID: https://orcid.org/0000-0002-9944-4108
(2025):
Antithetic Sampling for Top-K Shapley Identification.
The 3rd World Conference on Explainable Artificial Intelligence (xAI 2025), Istanbul, Turkey, 9. -11. July 2025.
In: Explainable Artificial Intelligence,
Bd. 2577
S. 131-155
[PDF, 1MB]
ORCID: https://orcid.org/0000-0002-7807-8460; Nielen, Tim ORCID: https://orcid.org/0009-0007-6941-8383 und Hüllermeier, Eyke ORCID: https://orcid.org/0000-0002-9944-4108
(2025):
Antithetic Sampling for Top-K Shapley Identification.
The 3rd World Conference on Explainable Artificial Intelligence (xAI 2025), Istanbul, Turkey, 9. -11. July 2025.
In: Explainable Artificial Intelligence,
Bd. 2577
S. 131-155
[PDF, 1MB]