Anzahl der Publikationen: 2
	Zeitschriftenartikel
    Geiger, Michael; Schwarz, Lukas; Zschieschang, Ute; Manske, Dirk; Pflaum, Jens; Weis, Jürgen; Klauk, Hagen und Weitz, Ralf Thomas
  
(2018):
		Quantitative Analysis of the Density of Trap States in Semiconductors by Electrical Transport Measurements on Low-Voltage Field-Effect Transistors.
	
	 In: Physical Review Applied, Bd. 10, Nr.  4, 44023
      
        
      
 
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				Sat Oct 25 22:17:47 2025 CEST
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