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Zeitschriftenartikel
Häusler, Jonas; Schimmel, Saskia; Wellmann, Peter und Schnick, Wolfgang 
ORCID: https://orcid.org/0000-0003-4571-8035
(2017):
Ammonothermal Synthesis of Earth-Abundant Nitride Semiconductors ZnSiN2 and ZnGeN2 and Dissolution Monitoring by In Situ X-ray Imaging.
In: Chemistry-A European Journal, Bd. 23, Nr. 50: S. 12275-12282
ORCID: https://orcid.org/0000-0003-4571-8035
(2017):
Ammonothermal Synthesis of Earth-Abundant Nitride Semiconductors ZnSiN2 and ZnGeN2 and Dissolution Monitoring by In Situ X-ray Imaging.
In: Chemistry-A European Journal, Bd. 23, Nr. 50: S. 12275-12282