Ufer, Nikolai und Ommer, Björn
ORCID: https://orcid.org/0000-0003-0766-120X
(2017):
Deep Semantic Feature Matching.
2017 IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR), Honolulu, HI, USA, 21-26 July 2017.
In: 2017 IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR),
New York: IEEE. S. 5929-5938
| Dokumententyp: | Konferenzbeitrag (Paper) |
|---|---|
| Fakultät: | Geschichts- und Kunstwissenschaften > Department Kunstwissenschaften > Kunstgeschichte |
| Themengebiete: | 000 Informatik, Informationswissenschaft, allgemeine Werke > 004 Informatik
700 Künste und Unterhaltung > 700 Künste |
| Ort: | New York |
| Sprache: | Englisch |
| Dokumenten ID: | 107304 |
| Datum der Veröffentlichung auf Open Access LMU: | 04. Okt. 2023, 13:47 |
| Letzte Änderungen: | 04. Okt. 2023, 13:47 |
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