Sanakoyeu, Artsiom; Ma, Pingchuan; Tschernezki, Vadim und Ommer, Björn
ORCID: https://orcid.org/0000-0003-0766-120X
(2021):
Improving Deep Metric Learning by Divide and Conquer.
In: IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence, Bd. 44, Nr. 11: S. 8306-8320
Weiterer Link: https://ieeexplore.ieee.org/document/9540303
| Dokumententyp: | Zeitschriftenartikel |
|---|---|
| Fakultät: | Geschichts- und Kunstwissenschaften > Department Kunstwissenschaften > Kunstgeschichte |
| Themengebiete: | 000 Informatik, Informationswissenschaft, allgemeine Werke > 000 Informatik, Wissen, Systeme
700 Künste und Unterhaltung > 700 Künste |
| ISSN: | 0162-8828 |
| Sprache: | Englisch |
| Dokumenten ID: | 109942 |
| Datum der Veröffentlichung auf Open Access LMU: | 03. Apr. 2024, 13:48 |
| Letzte Änderungen: | 03. Apr. 2024, 13:48 |
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