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Dokumententyp
| Veröffentlichungsdatum
Springe zu: Zeitschriftenartikel | Konferenzbeitrag
Anzahl der Publikationen: 4
Zeitschriftenartikel
Peltz, C.; Powell, J. A.; Rupp, P.; Summers, A.; Gorkhover, T.; Gallei, M.; Halfpap, I.; Antonsson, E.; Langer, B.; Trallero-Herrero, C.; Graf, C.; Ray, D.; Liu, Q.; Osipov, T.; Bucher, M.; Ferguson, K.; Moeller, S.; Zherebtsov, S.; Rolles, D.; Ruehl, E.; Coslovich, G.; Coffee, R. N.; Bostedt, C.; Rudenko, A.; Kling, M. F. und Fennel, T.
(2022):
Few-femtosecond resolved imaging of laser-driven nanoplasma expansion.
In: New Journal of Physics, Bd. 24, Nr. 4, 43024
Seiffert, L.; Liu, Q.; Zherebtsov, S.; Trabattoni, A.; Rupp, P.; Castrovilli, M. C.; Galli, M.; Süssmann, F.; Wintersperger, K.; Stierle, J.; Sansone, G.; Poletto, L.; Frassetto, F.; Halfpap, I.; Mondes, V.; Graf, C.; Ruehl, E.; Krausz, Ferenc 
ORCID: https://orcid.org/0000-0002-6525-9449; Nisoli, M.; Fennel, T.; Calegari, F. und Kling, M. F.
(2017):
Attosecond chronoscopy of electron scattering in dielectric nanoparticles.
In: Nature Physics, Bd. 13, Nr. 8: S. 766-770
ORCID: https://orcid.org/0000-0002-6525-9449; Nisoli, M.; Fennel, T.; Calegari, F. und Kling, M. F.
(2017):
Attosecond chronoscopy of electron scattering in dielectric nanoparticles.
In: Nature Physics, Bd. 13, Nr. 8: S. 766-770
Mondes, V.; Antonsson, E.; Plenge, J.; Raschpichler, C.; Halfpap, I.; Menski, A.; Graf, C.; Kling, M. F. und Rühl, E.
(2016):
Plasmonic electric near-field enhancement in self-organized gold nanoparticles in macroscopic arrays.
In: Applied Physics B: Lasers and Optics, Bd. 122, Nr. 6, 155
Konferenzbeitrag
Calegari, F.; Zherebtsov, S.; Seiffert, L.; Liu, Q.; Trabattoni, A.; Rupp, P.; Castrovilli, M.; Sansone, G.; Mondes, V.; Halfpap, I.; Graf, C.; Ruehl, E.; Nisoli, M.; Fennel, T. und Kling, M. F.
(2016):
Attosecond clocking of scattering dynamics in dielectrics.
Conference on Lasers and Electro-Optics, San Jose, Calif., USA, 5.-10.06.2016.
In: 2016 Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO) : 5-10 June 2016,
Piscataway, NJ: IEEE Computer Society.