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Anzahl der Publikationen: 3
Zeitschriftenartikel
Günther, M. M.; Volotka, A. V.; Jentschel, M.; Fritzsche, S.; Stoehlker, Th.; Thirolf, P. G. und Zepf, M.
(2018):
Dispersive refraction of different light to heavy materials at MeV gamma-ray energies.
In: Physical Review A, Bd. 97, Nr. 6, 63843
Günther, M.; Jentschel, M.; Pollitt, A. J.; Thirolf, P. G. und Zepf, M.
(2017):
Refractive-index measurement of Si at gamma -ray energies up to 2 MeV.
In: Physical Review A, Bd. 95, Nr. 5, 53864
Jolie, J.; Régis, J. -M.; Wilmsen, D.; Ahmed, S.; Pfeiffer, M.; Saed-Samii, N.; Warr, N.; Blanc, A.; Jentschel, M.; Köster, U.; Mutti, P.; Soldner, T.; Simpson, G.; France, G. de; Urban, W.; Drouet, F.; Vancraeyenest, A.; Baczyk, P.; Czerwinski, M.; Korgul, A.; Mazzocchi, C.; Rzaca-Urban, T.; Bruce, A.; Roberts, O. J.; Fraile, L. M.; Mach, H.; Paziy, V.; Ignatov, A.; Ilieva, S.; Kroell, Th.; Scheck, M.; Thuerauf, M.; Ivanova, D.; Kisyov, S.; Lalkovski, S.; Podolyák, Zs.; Regan, P. H.; Korten, W.; Zielinska, M.; Salsac, M. D.; Habs, D.; Thirolf, P. G.; Ur, C. A.; Bernards, C.; Casten, R. F.; Cooper, N.; Werner, V.; Cakirli, R. B.; Leoni, S.; Benzoni, G.; Bocchi, G.; Bottoni, S.; Crespi, F. C. L.; Fornal, B.; Cieplicka, N.; Szpak, B.; Petrache, C. M.; Leguillon, R.; John, R.; Lorenz, C.; Massarczyk, R.; Schwengner, R.; Curien, D.; Lozeva, R.; Sengele, L.; Marginean, N. und Lica, R.
(2015):
The (n, gamma) campaigns at EXILL.
In: Cgs15 - Capture Gamma-Ray Spectroscopy and Related Topics, Bd. 93, 01014
[PDF, 1MB]