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Zeitschriftenartikel

Eder, Georg; Schlögl, Stefan; Macknapp, Klaus; Heckl, Wolfgang M. und Lackinger, Markus (1. März 2011): A combined ion-sputtering and electron-beam annealing device for the in vacuo postpreparation of scanning probes. In: Review of Scientific Instruments, Bd. 82, 033701 [PDF, 857kB]

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