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Veröffentlichungsdatum
Springe zu: 2018
Anzahl der Publikationen: 2
2018
Liewald, Clemens; Mastel, Stefan; Hesler, Jeffrey; Huber, Andreas J.; Hillenbrand, Rainer und Keilmann, Fritz
(2018):
All-electronic terahertz nanoscopy.
In: Optica, Bd. 5, Nr. 2: S. 159-163
[PDF, 1MB]
Giordano, Maria C.; Mastel, Stefan; Liewald, Clemens; Columbo, Lorenzo L.; Brambilla, Massimo; Viti, Leonardo; Politano, Antonio; Zhang, Kai; Li, Lianhe; Davies, A. Giles; Linfield, Edmund H.; Hillenbrand, Rainer; Keilmann, Fritz; Scamarcio, Gaetano und Vitiello, Miriam S.
(2018):
Phase-resolved terahertz self-detection near-field microscopy.
In: Optics Express, Bd. 26, Nr. 14: S. 18423-18435
[PDF, 3MB]