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Veröffentlichungsdatum
Springe zu: 2017
Anzahl der Publikationen: 1
2017
Günther, M.; Jentschel, M.; Pollitt, A. J.; Thirolf, P. G. und Zepf, M.
(2017):
Refractive-index measurement of Si at gamma -ray energies up to 2 MeV.
In: Physical Review A, Bd. 95, Nr. 5, 53864