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Zeitschriftenartikel

Günther, M.; Jentschel, M.; Pollitt, A. J.; Thirolf, P. G. und Zepf, M. (2017): Refractive-index measurement of Si at gamma -ray energies up to 2 MeV. In: Physical Review A, Bd. 95, Nr. 5, 53864

Diese Liste wurde am Sat Dec 21 23:33:34 2024 CET erstellt.

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