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Veröffentlichungsdatum
Springe zu: 2016
Anzahl der Publikationen: 1
2016
Liewald, C.; Reiser, D.; Westermeier, C. und Nickel, B.
(2016):
Photocurrent microscopy of contact resistance and charge carrier traps in organic field-effect transistors.
In: Applied Physics Letters, Bd. 109, Nr. 5, 53301